[19.11.2019]

Zum ersten Mal war das CEC auf dem ZVEI-Fachkongress vertreten und konnte am CEC-Ausstellerstand zahlreiche interessante Kontakte knüpfen.

Elektrische Kurzschlüsse, mechanische Blockaden, Undichtigkeiten, optische Unterbrechungen von Lichtleitern sind Funktionsstörungen, die durch Partikelverunreinigungen entstehen können. Außerdem erhöht die zunehmende Miniaturisierung von Bauteilen und die ansteigende Bauteildichte die Notwendigkeit, sauberkeitsrelevante Fertigungsprozesse weiter zu optimieren. Beim 2. Fachkongress: Technische Sauberkeit in der Elektroindustrie der ZVEI Akademie am 19. November 2019 in Stuttgart wurde beantwortet, ab wann ein Bauteil als sauber gilt und wie der Grad der Sauberkeit gemessen werden kann. Zudem wurde veranschaulicht, wie standardisierte und vergleichbare Sauberkeitsanalysen durchgeführt werden und das Risikoabschätzungstool des ZVEI vorgestellt, das ein wissensbasiertes Risikomanagement auf ppm-Level ermöglicht.

Auch das CEC war bei der Veranstaltung in Stuttgart mit einem Ausstellerstand vertreten und konnte sowohl zahlreiche interessante Kontakte zu den Konferenzteilnehmern knüpfen, als auch dabei die Mitglieder des CEC-Netzwerks repräsentieren.